Cet outil unique en son genre vient d'être mis au point par l'Institut des matériaux Jean Rouxel. Il permet de mesurer et suivre des émissions de lumière à une échelle ultrarapide (100 femtosecondes, soit un dix-millionième de milliardième de seconde). Les applications sont multiples, notamment dans le domaine des matériaux à propriétés optiques spécifiques tels que les polymères conducteurs utilisés pour réaliser les écrans plats ou encore pour le marquage des cartes à puces électroniques.